La consultora Enertis Applus+ y el Instituto de Tecnología Microelectrónica (TiM) de la Universidad del País Vasco (UPV/EHU) han llevado a cabo un estudio en el que analiza la variabilidad del porcentaje de radiación reflejado por una superficie, el albedo, en campañas de medición de corta duración.
En concreto, compara la variabilidad del albedo registrado durante una campaña corta y periódica con las medidas obtenidas por satélite y los datos procedentes de campañas de medición de larga duración, en las que se utilizan estaciones fijas con registros continuos a lo largo del año.
La consultora explica que, hasta ahora, no había un conocimiento exhaustivo sobre las razones de la variabilidad del albedo, que parecía ser en parte aleatoria y en parte debida a diversos factores, como la no uniformidad de la superficie y los cambios relacionados con la estacionalidad y la humedad.
Los resultados obtenidos en este estudio sugieren que dicha variabilidad no es completamente aleatoria y, en todos los métodos de medición analizados, se observa que esta se incrementa considerablemente acercándose al solsticio.
Como parte del estudio, Enertis Applus+ y el TiM (UPV/EHU) han desarrollado un modelo estadístico comparando las campañas de corta duración con las medidas satelitales y las medidas de larga duración. Este modelo define el número mínimo de mediciones necesarias en cada superficie o tipo de clima para asegurar que el albedo obtenido durante las campañas de corta duración coincide, con un error admisible, con la medición a largo plazo llevada a cabo con una estación fija. Por lo tanto, sería posible optimizar el número de puntos y la duración de las campañas de medida en función de los distintos tipos de terreno y la época estacional, y las medidas serían mejores que las satelitales.
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